Yuan J., Stanev V., Gao C., Jin K., Takeuchi I.
Ключевые слова: review, fabrication, films, chalcogenide, measurement technique, microstructure, critical temperature, lattice parameter, X-ray diffraction, magnetic properties, susceptibility
Superconductor Science Technology, 2019, v.32, N 12, p.123001
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.